Material para o curso “Minerals Characterization: X-Ray Diffraction – Rietveld-Structure Refinement & Surface Area and Porosity Determination”

Segunda-feira, 6 de novembro de 2017

Última modificação: Segunda-feira, 6 de novembro de 2017

A Secretaria da Coordenação do Programa de Pós-Graduação em Engenharia de Materiais, juntamente ao Prof. Dr. Peter Georg Weidler, divulga o material que será utilizado durante o curso “Minerals Characterization: X-Ray Diffraction – Rietveld-Structure Refinement & Surface Area and Porosity Determination”.

O aluno inscrito no curso deverá portar o seguinte material para acompanhar as aulas:

Iupac.

SSA 1.

SSA 2.

SSA 3.

SSA 4.

SSA 5.

Basics Rietveld 1.

Basics Rietveld 2.

Basics XRD ia.

Basics XRD ib.

Basics XRD ic.

Basics XRD id.

Basics XRD Tutorial.

Convolution Based Profile Fitting.

 

Atenciosamente,

 

Secretaria do Programa de Pós-Graduação em Engenharia de Materiais.